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【名称】SHASHIN KAGAKU 成像膜厚监视器写真化学
【产品型号】
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【品牌】SHASHIN KAGAKU写真化学
SHASHIN KAGAKU 成像膜厚监视器写真化学 SHASHIN KAGAKU写真化学

SHASHIN KAGAKU 成像膜厚监视器写真化学
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服务:售前咨询电话:400-880-5151
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特征

红外板厚度监测器测量半透明板的厚度,如电池隔板、低反射涂层,如黑色光刻胶和硅。它可用于从实验室水平到生产中在线 100% 检查的所有应用。红外吸收系统由一个带有透射式光学系统的紧凑型镜面探头组成,可以同时测量多个参数,例如薄膜厚度、密度和成分,超过 100 个波长。

  1. 1

    测量半透明片材、低反射膜、硅等的厚度,这在光学干涉测量法中是难以实现的

  2. 2

    紧凑型探头

    通过采用小型 30 mm 反射探头,它可以安装在设备或生产线的狭小空间内。此外,由于探头仅通过光纤电缆连接到主体,因此具有优异的耐环境性。

  3. 3

    高速测量
    在 100 个点或更多点同时对 950 nm 至 1650 nm 的近红外波长进行采样

  4. 4

    厚度测量再现性 0.1% 以下 (3σ)

  5. 5

    测量算法

    算法 校准样品 参数数量
    兰伯特-比尔定律 1 厚度
    *小二乘回归法 2 个或更多 多个参数
    (厚度、密度、复合比例等)

测量示例 1(锂离子电池隔膜)

可以同时测量厚度和涂层重量

测量示例 1(黑色光刻胶膜厚度)

黑色光刻胶膜厚测量,这在反射光谱法中
很难实现

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