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KASHIYAMA樫山工業
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简单介绍

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【名称】胜铁克SENTEC 白光干涉式位移传感器
【产品型号】IMS5600-DS
【产品价格】0.00
【品牌】SENTEC 胜铁克
胜铁克SENTEC 白光干涉式位移传感器 IMS5600-DS SENTEC 胜铁克

白光干涉式位移传感器 使用分光干涉原理的位移计，可以进行非常高精度的测量。由于光点直径小，适合小型零件的测量。无论测量对象物的材质如何都可以测量，如果是透明体的话，可以从一侧用一根传感器测量厚度。与共焦光学式传感器相比，由于设置距离较长，可以从较远的位置进行测量。
胜铁克SENTEC 白光干涉式位移传感器
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白光干涉式位移传感器

使用分光干涉原理的位移计，可以进行非常高精度的测量。由于光点直径小，适合小型零件的测量。无论测量对象物的材质如何都可以测量，如果是透明体的话，可以从一侧用一根传感器测量厚度。与共焦光学式传感器相比，由于设置距离较长，可以从较远的位置进行测量。

纳米级的距离和厚度测量

距离测量：IMS5400-DS/5600-DS，厚度测量：5400-TH



新的超高精度位移计加入了本公司阵容。使用分光干涉原理的位移计，准备着报名模型的IMS5400-DS，pm水平的分辨率自豪的IMS5600-DS，单侧的透明体厚度测量可能的IMS5600-TH的3机种。因为测量范围*大有2.1mm，变化量大的对象物也能高精度地测量。它具有良好的温度稳定性和被动冷却，提供了稳定的测量结果。支持以太网、EtherCAT、RS422、模拟输出、同步输入、编码器输入等各种输入输出。

IMS5600系列标准品传感器头真空环境下应用也能使用。可以在网络浏览器中简单地设定，也不需要安装软件。

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